전자물리test(실험) - 부귀환 test(실험)
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작성일 23-04-30 14:12
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4. VOUT / VIN을 사용하여 폐회로이득을 계산하여 표.1에 기록한다.
6. 표.1에 주어진 다른 R2의 값을 사용하여, 2~5번을 반복하여 표.1에 기록한다.
③ 이득과 대역폭의 상관관계
- 대역폭에 따른 적절한 이득을 결정한다. - 대역폭에 따른 적절한 이득을 결정한다.
1. 측정(measurement)오차, 허용오차 등으로 인해 표.2의 이득-대역폭 곱은 근사적인 값이다.
4. 3번 과정에서 구한 R2의 저항값(혹은 가장 근사한 크기의 저항)으로 회로를
- test(실험) 장비 및 재료
전자물리test(실험) - 부귀환 test(실험)
① 폐회로 이득
레포트 > 공학,기술계열
5. 오실로스코프의 리드를 반전입력에 연결해, 입력전압의 VPP값을 측정(measurement)하여 표.1에 기록한다.
실험목적 - 폐회로의 전압이득을 측정한다.
ACL = 1,073,750.667 / 20,000 = 53.687
전원공급장치 : DC 15V 전원 2대
반도체 : 741C 2개
1. R2 = 8.2kΩ을 사용하여 실.1의 회로를 연결한다.
V IN = 316mV (실제로 63.224kΩ지만 대체로 48,2kΩ를 사용)
설명
기록한다. 실험과정 및 결과 - 실험 장비 및 재료 전원공급장치 : DC 15V 전원 2대 측정장비 : 오실로스코프, 함수 발생기 저항 : 1/2W, 100Ω, 100kΩ, 220kΩ 각 2개씩 반도체 : 741C 2개
변경한다. - 이득-대역폭 곱을 계산하기 위한 데이터를 얻는다.
3. R1 = 1.2kΩ인 경우 2번 과정에서의 폐회로 전압이득을 얻기 위한 R2의 값은 ?
2. 20kHz의 대역폭을 갖는 증폭기가 필요한 경우, 이때의 폐회로이득을 계산하여
순서
전자물리실험,부귀환 실험
test(실험) 과정 및 결과
3. 오실로스코프의 리드를 입력과 연결해서, 입력전압의 VPP값을 측정(measurement)하여 표.1에 기록한다. 저항 : 1/2W, 100Ω, 100kΩ, 220kΩ 각 2개씩
test(실험) 목적
2. 오실로스코프의 출력저항 1.2kΩ의 양단에 연결하고, 주파수는 1kHz, 신호는 15VPP가 되도록 조정한다.
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R2 = (53.687-1)* 1,200 = 63.224 kΩ
experiment(실험)과정
- 폐회로의 전압이득을 측정한다.
- 이득-대역폭 곱을 계산하기 위한 데이터를 얻는다.
세 값의 average(평균)값을 구하여 기록한다.
측정장비 : 오실로스코프, 함수 발생기
ACLfCL = (370,625+1,267,094+1,583,533)/3 = 1,073,750.667
다.
